高低溫沖擊試驗箱/冷熱沖擊測試機的詳細資料：

符合標準：
《GB10592-89》高低溫箱技術(shù)條件；
《GB10586-93》濕熱試驗箱技術(shù)條件；
《GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》：低溫試驗方法；
《GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》：高溫試驗方法；
《GB/T2423.4-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》：交變濕熱試驗方法；
《GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》：恒定濕熱試驗方法。
主要用途：
高低溫沖擊試驗箱/冷熱沖擊測試機用于測試材料或復(fù)合材料在瞬間下經(jīng)高溫或低溫連續(xù)環(huán)境下的忍受程度，得以在Z短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

結(jié)構(gòu)特點：
根據(jù)試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產(chǎn)品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機帶動提籃運動來實現(xiàn)高低溫的切換，產(chǎn)品放在提籃里，是隨提籃一起移動的。
適用范圍：
用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁、光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機械的組件，都會用到，是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測試的*的一項測試箱，用于耐高溫、耐低溫、耐濕熱循環(huán)檢測試驗。
技術(shù)參數(shù)：
1、溫度范圍：-65℃～150℃：高溫箱：+60℃～150℃；低溫箱：0℃～-65℃；
2、溫度波動度：±2℃;
3、溫度誤差：±2℃;
4、升溫速率：從常溫～150℃≤50min；
5、降溫速率：從常溫～-65℃≤60min;
6、制冷下限溫度：≤-65℃;
7、沖擊溫度：+150～-65℃;
8、工作室尺寸：500×400×400mm（寬×高×深）;
9、外形尺寸：約1900×2100×2000mm（寬×高×深）;
10、電源：380V±38V；50Hz±1Hz
11、功率：約16.5Kw
12、溫度恢復(fù)時間：≤5min;
13、樣品架承重：10Kg以內(nèi).